spc控制图K值计算

规格上下限是标准上下限,管制上下限是自动计算出来的.

CPK和PPK的计算公式网上有命令可找：你直接寻找CPK函数或PPK函数就可找到CPK计算方法:Ca=(X-U)/(T/2),计算出制程准确度：Ca值(X为所有取样数据的平均值)Cp=T/6σ,计算出

数据分析就是要把握生产中所出现的问题点.数据太少一般不容易找到问题,不便于问题的解决,甚至会造成假象影响最终的品质改善方案.

用子组里的每一个样本值减去子组的样本均值,然后平方再求和,将得到的值除以n-1,最后再开根号,这样就得到每一个子组的标准差了,即为Xbar-S里面的“S”值.

1.首先确认控制限计算有无问题2.如果控制限计算没问题Cpk实际上是Cp值与K值的综合反映,公式为Cpk=(1-K)*CpCp值表示的是集中度,即数据的集中程度K值表示的是准确度,即数据的均值与标准中

对于计量值来说,是平均值加3倍sigma!

控制图选用原则在质量管理工作中,通常用到各种控制图,用于分析或控制制程,本文在此对如何选用控制图简单归纳如下表,请大家参与讨论计量型数据控制图x--R平均值—极差图1、通常子组样本容量小于9,一般为4

控制图应该算SPC的一种也就是说SPC包括控制图SPC是StatisticalProcessControl的简称统计过程控制利用统计的方法来监控制程的状态,确定生产过程在管制的状态下,以降低产品品质的

一、各阶段的质量管理重点二.数据的基本常识：⒈数据的分类⒉收集数据的目的⒊收集数据应按注意的事项①有效数字②数字的修约规则⒋数据的几个重要特征：①表示数据集中位置的特征数②表示数据离散程度的特征数：极

1、理解上的错误：“使CPK值小于1.33?”是错的；既然做SPC,CPK值应大于1.33；2、过程控制很好,公差是±0.3,即0.6；而过程变差是0.10；估计CPK值应大于2（原来是4点多）；带来

控制图由正态分布演变而来.正态分布可用两个参数即均值μ和标准差σ来决定.正态分布有一个结论对质量管理很有用,即无论均值μ和标准差σ取何值,产品质量特性值落在μ±3σ之间的概率为99.73%,落在μ±3

PPK的西格玛使用标准差S算的.PPK=公差带/6*S

打劫,把分交出来.嘿嘿嘿嘿模板全套在我空间.猜怪

首先你要搞清楚spc干什么用的,它是用来监控变异的.你用3Sigma控制限都看不到变异,那用4sigma就更看不到了.因为3Sigma控制限是基于监控制程中心值偏移3sigma的时候发现变异,故你应该

控制图八大判异准则－精简顺口溜版23456,AC连串串（连增或连减）；81514,缺C全C交替转；9单侧,一点在外.控制图八大判异准则提练（口决、图片对应项目）：1、2/3A（连续3点中有2点在中心线

SPC是个统称.里面有很多种控制图.如何选择,在新版SPC手册里面有说明,文件太大.这里就不传了.你可以上网搜SPC标准手册

1、Xbar-R控制图,即平均值-极差控制图,这是最常用的.2.X-Rm控制图,即单值-移动极差控制图；3.P控制图,即不良率控制图.这个用的也不少.

首先,了解一下概念：1、虚发警报错误,也称第I类错误.在生产正常的情况下,纯粹出于偶然而点子出界的概率虽然很小,但不是绝对不可能发生.故当生产正常而根据点子出界判断生产异常就犯了虚发警报错误,发生这种

针对楼主的专业问题,我特意咨询了一下盈飞无限（InfinityQS）的SPC工程师.他们给的答案是这样的：控制限的理论依据是均值+/-3倍标准差,但是这个3倍标准差值是根据样本大小n和Rbar、MRb

SPC是“统计过程控制”,不能说怎样计算.CP和CPK是过程能力指数,Cp=T/6σCpk=(1-k)Cp=[1-(2ε/T)]Cp以上公式要用到“正态分布”这个统计知识,其中的T、σ、ε在“正态分布