硅单晶电阻率测定方法如何提高测试的精确度?为什么需要对厚度进行修正?（四探针法）

可以采用四探针法测试出薄膜的电阻率,然后根据电阻率计算电导率吗? 四探针法中,方块电阻就是表面电阻率吗?可以采用这种四探针法直接测试薄膜的表面电阻率吗? 直流四探针法测量半导体的电阻率的原理是什么?有什么需要注意的嘛? 用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源 四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题? 电池片的电阻率用四探针怎么测 在单摆测定重力加速度实验中,以下几点建议,对提高测量精确度有利的是?为什么? 在用量热器测液体比热容实验中,为什么要对散热进行修正,如何修正? 改进KDY-1型四探针电阻率方阻测试仪(因为它只能测度标准样品的电阻率) 四探针可以测铝之类的金属的电阻率吗? 游标卡尺为什么可以提高测量的精确度 如何提高测量金属丝电阻率的准确度?